冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)型號及技術(shù)參數(shù)如下:
AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸:350×350×400外箱尺寸:1560×1750×1440(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸:500×400×400外箱尺寸:1700×1800×1440(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸:600×400×400外箱尺寸:1800×1800×1440(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸:600×500×500外箱尺寸:1800×1900×1540(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸:700×600×600外箱尺寸:1900×2000×1640(分別是寬×高×深) (mm)
AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸:800×800×750外箱尺寸:2020×2250×2150(分別是寬×高×深) (mm)
冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)常用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產(chǎn)品及零配件,航天、國防工業(yè)、兵工業(yè)、半導(dǎo)體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)沖擊力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的實(shí)際質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它作為理想的測試設(shè)備。
熱沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)是提供給電子器件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗(yàn)箱不僅適合電子器件使用,還是光電、金屬、塑料、LED、橡膠、電子等工業(yè)材料行業(yè)*的試驗(yàn)設(shè)備,結(jié)婚分為兩箱式和三箱式,區(qū)別在于試驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:A:-40~ 150℃;B:-55~ 150℃;C:-65~ 150℃
所有高低溫沖擊試驗(yàn)箱的電源均采用:3∮5W AC380±10% 50/60HZ
高溫室:預(yù)熱溫度范圍,RT 20℃~200℃升溫時(shí)間: 20℃~ 200℃約30min
低溫室:預(yù)冷溫度范圍,RT~-80℃降溫時(shí)間: 20℃~-80℃約80min
實(shí)驗(yàn)室沖擊:溫度均勻度±2.0℃
內(nèi)外部材質(zhì):內(nèi)箱為SUS 304#不銹鋼板霧面處理,外箱為冷軋鋼噴塑處理或不銹鋼
保溫材質(zhì):耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料
控制器:愛佩采用*“TEMI”或“OYO”牌
通訊功能:RS-232接口
壓縮機(jī):'泰康'牌或''
制冷劑:R23和R404環(huán)保制冷劑